Вы запросили

Авторы: Dizon J.R.

Показаны 1−16 из 16 < предыдущая 1 следующая > Показать все
Если количество статей оказалось слишком большим или маленьким попробуйте изменить запрос.

Oh S., Cho J.W., Shin H.(hsshin@andong.ac.kr), Dizon J.R.

Bending strain characteristics of critical current degradation behavior in externally-reinforced Bi-2223 tapes under pressurized liquid nitrogen

Combining Near-Field Scanning Microwave Microscopy With Transport Measurement for Imaging Current-Obstructing Defects in HTS Films

Ключевые слова: HTS, YBCO, films, defects, measurement technique

Главная | Новости | Бюллетень | Конференции | Поиск публикаций в базе данных | Новое в базе данных
Российские организации | Энциклопедия | Цели сайта | Контакты | Полезные ссылки | Карта сайта | Помощь

© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.